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紅外熱像儀用于檢測(cè)電路板
電話：010-67506261（多線）
optris@bjrise.com
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主要產(chǎn)品：紅外測(cè)溫儀，紅外熱像儀，黑體爐
德國(guó)歐普士紅外測(cè)溫 網(wǎng)站地圖
E-mail：optris@bjrise.com
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電子電路的故障一般分為短路、斷路和接觸不良。電路正常工作與帶故障時(shí)，電子元件所發(fā)出的紅外線是不一樣的，也就是說(shuō)電路正常工作時(shí)，電路板熱成像與有故障的電路板熱成像有很大區(qū)別。
當(dāng)電子元件發(fā)生故障時(shí)，有兩種情況：一是短路，短路時(shí)電流較大，元件較熱，其紅外線輻射量大，此時(shí)熱成像較正常是紅外成像變化很大；二是當(dāng)元件斷路（接觸不良）時(shí)，流過(guò)元件的電流值幾乎為零，所以，元件溫度較正常工作時(shí)低，幾乎沒(méi)有紅外輻射，此時(shí)，熱成像與正常時(shí)熱成像差別較大。利用這一原理很容易的就判斷出電子電路故障點(diǎn)。 紅外熱成像為測(cè)試人員提供了一種獨(dú)特的IC 測(cè)試方法, 通過(guò)一次紅外掃描成像, 即可獲取板上每個(gè) IC 的功耗值, 并變成可視信息供測(cè)試人員進(jìn)行故障診斷。