應用紅外熱像儀檢測液晶屏
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液晶屏可能會由于質量問題造成壞點,但壞點通常很小,要檢查出和分析其損壞原因非常困難,紅外檢測是目前行之有效的檢測方式,但微米級級別的壞點和非常小的溫差是紅外檢測的難點,下面敘述使用紅外熱像儀對液晶屏進行壞點檢測的過程和系統解決方案。
檢測案例: 我們需要對液晶面板上的像素點進行檢測,如果有壞點,或其它的缺陷,因其內阻較高,在熱像圖中呈現的是熱點,該現場存在兩個檢測難點:
1、目標小:液晶屏每個像素點尺寸為微米級別,最小的像素點尺寸僅為40微米,各型號略有差異。
2、溫差小:受到液晶屏整體發熱的能量傳遞因素影響,壞點的溫度與正常部位的溫差一般在1℃之內。
解決方案:
1、配套微距鏡頭,可根據現場實際情況配置微距鏡頭2或微距鏡頭3。
2、安裝三腳架和二維可調精密位移云臺。
3、建議將調色板設置為灰度模式,方便小溫差情況下的觀測。
4、因液晶屏表面是玻璃材質,檢測時注意人員或其他設備不要在液晶屏表面造成反射干擾,建議用不透紅外能量的材料(如布、紙張等進行遮擋,不要用塑料紙)。